AWG芯片bar条测试

系统独有的智能算法，配合Santec、JDSU可调光源或其它品牌（用户可指定），可快速完成耦合、插损、回损、PDL及均匀性等相关指标的波长扫描测试。可以多工位共享一台可调光源及偏振控制器，1拖16（即一台可调光源和偏振控制器共享16个耦合测试工位）或更多，需根据可调光源的功率决定。测试速度快、员工依赖性低、产品性能佳及产品可靠性高等，目前已成功应用于国内数家主要的光器件生产厂家。

适用于光纤、光纤陈列和光波导等单芯或多芯器件的对准耦合及测试，如光分路器条形芯片测试，AWG条形芯片的波长扫描测试等。     

3.1，多工位共享一台可调光源和偏振控制器，完成巴条芯片的波长扫描和测试，有效的降低成本，可共享16

   个耦合测试工位，或更多。测试参数,插损、回损、PDL及均匀性等相关指标；

   3.2，可调光源和偏振控制器，用户可指定品牌，如santec、JDSU等；

3.3，速度快，在同类设备中精度更高，重复性更好，稳定性极高；

3.4，操作简单，所有工作步骤可在同一平台上完成；

3.5，系统模块化构造，易于保养；

3.6，高精度传感器，精确控制胶层;

3.7，观察系统部件由显微变焦镜头、CCD、监视器等组合成的结构体，更易于

操作；

3.8，14轴电动滑块，自动对平行、自动耦合及自动扫描测试；

3.9，多通道光功率计，高速采样，最快>10k/s；

3.10，根据客户需求，可定制设备不同解决方案。

系统架构(TSL-570和PCU-110)：

序号

品名

单位

数量

备注

1

直线位移台

套

6

重复定位精度<0.5um.台面尺寸:60mm*60mm

行程20mm

2

长行程直线位移台

套

1

重复定位精度<0.5um.行程100mm

3

电动弧度滑台

套

6

最大量程可达正负8度，精度<0.003度

4

视觉系统位移台

套

1

行程200mm

5

直线传感器

套

2

重复定位精度<1um(原装进口)

6

直线传感器控制器

台

1

采样频率≥3500次

7

芯片夹具

套

1

气吸固定或机械固定.

8

观察系统

套

1

高清USB   CCD两台，CCD像素>200万

9

电动滑台控制器

台

1

采用通用接口HR10A-10P-12S,灵活性好，可替代性高。

10

多通道高速功率计

台

1

多通道高速探头，数据采样>100K次/s.

11

电脑+显示器

台

1

工业板卡，固态硬盘，19寸方正显示器

12

光源

台

1

带制冷器，大功率,高稳定性

13

光学平台

台

1

立式、1200mm*1200mm*850mm

14

可调光源和电子偏振控制器

台

1

品牌:santec或JDSU，用户可指定，或客供。

15

随机附件

套

1

配有必备的软件硬件